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微针测试模组(Pogopin Test)

性能与特点

1:治具基座采用铝合金材质,表面硬质氧化处理。2:针盘材质有:Torlon/Peek/pps/pei等顶级工程材料可选,性能稳定不变形,防静电。3:探针均采用高品质进口探针,接触阻抗低,确保信号传输稳定。4:探针有双头探针和线针可选,线针测试次数可达60万次以上,双头针可达10万次以上。5:带保护载板设计,有效保护探针不受操作失误损伤,确保产品测试时放置平整,定位准确及探针接触精度。6:信号全部采

技术参数

1:治具基座采用铝合金材质,表面硬质氧化处理。

2:针盘材质有:Torlon/Peek/pps/pei等顶级工程材料可选,性能稳定不变形,防静电。

3:探针均采用高品质进口探针,接触阻抗低,确保信号传输稳定。

4:探针有双头探针和线针可选,线针测试次数可达60万次以上,双头针可达10万次以上。

5:带保护载板设计,有效保护探针不受操作失误损伤,确保产品测试时放置平整,定位准确及探针接触精度。

6:信号全部采用镀金PCB转接,避免使用线材连接造成的干扰及衰减,确保通信传输稳定及维护方便。

7:治具采用进口高精度CNC加工,最小孔径可达0.15mm,最小间距可达0.05mm,最小探针直径为0.1mm。

8:微针测试治具可广泛用于TP/摄像头/指纹模组/显示屏/FPC连接器等测试。